OLED光譜分析系統(tǒng)用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。 一、OLED光譜分析系統(tǒng)優(yōu)勢:
1)可測量單只0LED的色品坐標、色溫、顯色性指數(shù)、色容差、峰值波長、主波長、色純度、半寬度、色比、光譜分布、光通量、光輻射功率、溫度等參數(shù)，滿足CIE對光和顏色測量要求。
2)光譜掃描速度快(10S)。
3)系統(tǒng)能自動描繪OLED的光通量/功率/電壓/電流隨時間的變化曲線(光衰)。
二、系統(tǒng)構成:
1)光譜分析系統(tǒng)軟件。
2)光譜分析系統(tǒng)。
3)光纖。
4)積分球。
5)通用標準光源(校準用)。
6)精密數(shù)顯直流穩(wěn)流穩(wěn)壓電源。
